其它
产品简介: 霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-400K温度范围内对霍尔系数和电导率的联合测量,进行半导体导电机制及散射机制的研究,并可确定半导体的一些基本参数,如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。
产品简介: 参照电阻加热蒸发法制备超微颗粒的原理,进行相关的金属、氧化物、高分子材料及其他材料的超微颗粒制备实验或演示
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