其它
产品简介： 霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-400K温度范围内对霍尔系数和电导率的联合测量，进行半导体导电机制及散射机制的研究，并可确定半导体的一些基本参数，如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。
产品简介： 参照电阻加热蒸发法制备超微颗粒的原理，进行相关的金属、氧化物、高分子材料及其他材料的超微颗粒制备实验或演示
产品简介： 利用电子积分器代替冲击法测量永磁材料的磁特性，由计算机画出退磁曲线和磁滞回线，可测得剩磁、矫顽力、磁能积等永磁参数。
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